講師：高城大輔博士
　　　(大阪大学大学院理学研究科　熱・エントロピー科学研究センター)
演題：STMによる導電性高分子薄膜の分析
日時：令和4年3月31日（木）14：00〜15：30
場所：オンライン開催（Zoom）

2005年に京都大学にて学位を取得され、物質材料研究機構を経て、現在熱・エントロピー科学研究センターに在籍されている新進気鋭の研究者です。
走査トンネル顕微鏡法（STM）を用いて、二次元表面に吸着した導電性高分子の物理的・化学的振る舞いを活発に研究されています。